SOC-Testsystem - PR1251693-2270-W
Was der Auftraggeber sucht
This specification describes the requirements for a semiconductor test system (mixed-signal test system) to be used for post-silicon verification, characterization and functional test of integrated circuits and chiplets at Fraunhofer EMFT. The test system must provide interfaces that allow connection with an industrial standard wafer probing system as well as with an industrial standard device handling system. The test system has to be compatible in Hard- and Software to an already existing Advantest V93000 test system in the Fraunhofer-Gesellschaft.
Auftrag
Art der Leistung
Wer bei diesem Auftraggeber bisher gewonnen hat
| Unternehmen | Zuschläge | Zeitraum |
|---|---|---|
| Keysight Technologies | 39 | 2022–2026 |
| EV Group E. Thallner GmbH · Neuhaus am Inn | 23 | 2024–2026 |
| SUSS MicroTec Solutions GmbH & Co. KG | 19 | 2023–2026 |
| Rigaku Europe SE | 16 | 2023–2025 |
| Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH | 15 | 2023–2026 |
Wie oft dieser Auftraggeber so etwas ausschreibt
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Taktik
Dieses Verfahren gibt 31 Tage zwischen Veröffentlichung und Frist — üblich in Deutschland sind 33 (Mittel aus 23.043 Verfahren). Ein normales Fenster für diesen Markt.
Die Frist fällt auf einen Montag — Ihr letzter voller Arbeitstag ist der Freitag davor. Nachweise und Bürgschaften bis Donnerstag beisammen haben.
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