SOC-Testsystem - PR1251693-2270-W

Czego szuka zamawiający

This specification describes the requirements for a semiconductor test system (mixed-signal test system) to be used for post-silicon verification, characterization and functional test of integrated circuits and chiplets at Fraunhofer EMFT. The test system must provide interfaces that allow connection with an industrial standard wafer probing system as well as with an industrial standard device handling system. The test system has to be compatible in Hard- and Software to an already existing Advantest V93000 test system in the Fraunhofer-Gesellschaft.

Zamówienie

Kto dotąd tu wygrywał

Jak często ten zamawiający ogłasza takie zamówienia

Kto zna rytm, przygotowuje się, zamiast reagować.

Jak złożyć ofertę