Semi Automatic Prober for characterization of 200 mm Wafers
Was der Auftraggeber sucht
Gegenstand der Beschaffung ist die Lieferung eines betriebsbereiten halbautomatischen Wafer-Probersystems mit integriertem Charakterisierungssystem. Das Gesamtsystem muss für DC-I/V-, C-V-, C-f-, C-t- sowie Niederfrequenz-Impedanzmessungen bis 10 MHz geeignet sein und als vollständig integrierte Einheit geliefert, installiert, in Betrieb genommen und einschließlich einer Anwenderschulung übergeben werden. Sämtliche Schnittstellen zwischen den Systemkomponenten sind durch den Auftragnehmer sicherzustellen.
Auftrag
Art der Leistung
Kontakt Vergabestelle
Taktik
Dieses Verfahren gibt 34 Tage zwischen Veröffentlichung und Frist — üblich in Deutschland sind 33 (Mittel aus 23.043 Verfahren). Ein normales Fenster für diesen Markt.
Die Frist fällt auf einen Montag — Ihr letzter voller Arbeitstag ist der Freitag davor. Nachweise und Bürgschaften bis Donnerstag beisammen haben.
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