Półautomatyczna sonda do charakteryzacji waferów 200 mm
Semi Automatic Prober for characterization of 200 mm Wafers
Niemcy · Frankfurt (Oder)
Zamówienie
ZamawiającyIHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
RodzajDostawy
Wartość szacunkowawartość nieopublikowana
Opublikowano30 lipca 2026
KategoriaSprzęt laboratoryjny i pomiarowy · CPV 38000000
11
dni do terminu — poniedziałek, 31 sierpnia 00:00
Jak złożyć ofertę
Przeczytaj pełne ogłoszenie — Oryginał + dokumenty
Prowadzi bezpośrednio do tego postępowania na TED — Tenders Electronic Daily. Tam znajdą Państwo opis przedmiotu zamówienia i wszystkie załączniki.
Takie przetargi codziennie o 7:30 w Państwa skrzynce.
Zacznij bezpłatnie →