Sonde Semi-Automatique pour la caractérisation de plaquettes de 200 mm
Semi Automatic Prober for characterization of 200 mm Wafers
Allemagne
Marché
AcheteurIHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
TypeFournitures
Montant estimémontant non publié
Publié le30 juillet 2026
CatégorieÉquipements de laboratoire & de mesure · CPV 38000000
11
jours avant la date limite — lundi 31 août à 08:00
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